眼鏡コーティング測定
眼鏡レンズの反射防止膜のスペクトラム、残留色の測定、それにハードコートと疎水層の膜厚測定には、分光反射率が利用されます。
アプリケーションカタログをリクエストする反射防止コーティング
反射防止コーティングは、コーティングの無いレンズにより引き起こされるまぶしい光と、この光が引き起こす目の疲れを減少させる為に用いられます。 反射防止コーティングを施されたレンズの青緑の色調は多くの消費者に好評です。 そのため反射防止コーティングの制御とその色と測定は非常に重要となりました。
フィルメトリクスのF10-ARは、眼鏡測定用途に特別に開発されたもので、反射防止コーティングの特性測定のための弊社独自の機能を数多く標準装備しています。。
ハードコート
ハードコートは、キズの防止やUVカットのために施されます。 この保護膜は、レンズをハードコートでカバーしたり、また反射防止コーティングに対して施され、より強固なレンズにします。
フィルメトリクスのF10-ARはハードコート測定用アップグレードと共にご利用いただけます。 15ミクロンまでの単層、二層のハードコートの膜厚測定が可能です。
疎水性層
疎水性層コーティングは反射防止コーティングの施されたレンズに撥水、撥油性を与え、クリーニングを容易にします。 こうした層は、厚さが数百の原子層と非常に薄いため、正確な測定には紫外光領域での測定が必要です。 疎水性層の膜厚測定に適しているのは F10-AR-UV に UPG-F10-AR-d と UPG-F10-RT-nkのアップグレードを加えたものです。
レンズ透過率測定
F10-AR機種に搭載したレンズ透過率測定用オプショナル ステージ(曲面サンプル用 SS-Trans-Curved)はご利用可能です。
眼鏡用アプリケーションにはお問い合わせフォームで当社技術者にご相談下さい。
フィルメトリクスは無料お試し測定を行っています。 - 結果は通常1~2日です。
測定例
オプションのHCアップグレードを装備したF10-ARcシステムで収集された反射率データにより、ハードコート厚が測定されました。このシステムは光学コンタクトプローブを用いるため、本質的に裏面反射の影響を減らし、凹面と凸面の膜厚測定を可能にします。コンタクトプローブはレンズの表面に置かれ、スペクトルデータが収集され、その後レンズが所定の反射率の仕様に見合うかどうかを決定するためFILMeasureにより自動的に分析されます。平均反射率、最低と最高値の測定が可能で、ハードコートの存在を補います。ここで測定されたレンズは必要条件に一致し、明確な”測定”表示が示されました。測定セットアップ:
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アモルファスとポリシリコン
膜厚測定、結晶化度、全てのアモルファスとポリシリコンの屈折率と消衰係数
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CMP
F80膜厚測定システムは、酸化物、STI、金属CMPプロセスの測定に使用されています。
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誘電体
フィルメトリクスは産業界で使用される数千もの誘導体膜の測定システムを取り揃えています。
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ハードコート厚
フィルメトリクスのシステムはハードコートやプライマー厚を測定する自動車業界で幅広く使用されています。
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IC故障解析
F3-s1550はシリコンの裏面シニング測定をするチップ産業で使用されています。
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ITOとその他のTCO
当社独自の解析アルゴリズムにより、TCO厚、屈折率、消衰係数の測定が測定ボタン一つで可能です。
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血管形成バルーン、ステント、インプラントコーティング、その他多数の膜厚を測定します。
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金属膜厚測定
金属膜の膜厚、屈折率、消衰係数を50nmまで測定します。
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OLED
NPB、lQ3、PEDOT、P3HT、soluble Teflons等の膜厚と屈折率を測定します。
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眼鏡コーティング
F10-ARで屈折率、色、反射防止、ハードコート層厚の測定が可能です。
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Paryleneコーティング
ParyleneコーティングサンプルをF3-CSのステージ上に置くだけで膜厚の測定が可能です。
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フォトレジスト
当社は数十もの異なるレジストを測定しており、屈折率ファイルもお使いのレジストに応じて作成できます。
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多孔質シリコン
多孔質シリコン膜の膜厚、多孔率、屈折率、消衰係数を測定します。
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プロセス膜
フィルメトリクスは半導体プロセス膜の測定用に完全なシステムを取り揃えています。
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190-1700nm範囲の屈折率と消衰係数を測定
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シリコンウエハーと膜
フィルメトリクスはシリコンを2mm厚まで測定する為の卓上、マッピング、製造システムを取り揃えています。
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CdTe、CdS、CIGS、アモルファスシリコン、TCO、反射防止層、その他の膜厚を測定します。
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50台以上のF20が大学機関研究所で使用されています。
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フィルメトリクスのシステムはインラインのポリマー膜厚測定用に幅広く使用されています。
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