屈折率と消衰係数
フィルメトリクスのシステムは測定ボタン一つで瞬時に190-1700nmまでの波長の屈折率と減衰係数を測定します。ほとんどの場合、特にSi3N4やITO、その他よく使用される材料で膜が吸収しているものや透明基板上のものは、当社の正確性は、より複雑でより高価な エリプソメトリーより優れています。
フィルメトリクスは無料サービスとして屈折率測定も提供しています。また、もし何か特定のも材料をご覧になりたい場合、 屈折率一覧表をご参照下さい。
測定例
フィルメトリクスの膜厚測定システム(特にF10-RTとF10-RTAシステム)は、困難を伴う材質をすばやく測定するのに理想的です。当社のFILMeasureソフトウエアを熟知する必要なく、複雑な光学定数が得られます。このサンプルでは、石英ガラス上のMEH-PPVの単膜の反射率と透過率スペクトルが正確に(そして同時に)膜厚、屈折率、消衰係数を測定するために形成されました。 このサンプルでは Bridge Lorentzian-3 Term モデルが成功して用いられました。更に、FILMeasureはその他の光学モデルの広範囲に及ぶライブラリを備えています。当社のユーザーコントロールによるソルバーは正確な結果をすばやく取得します。測定セットアップ:
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アモルファスとポリシリコン
膜厚測定、結晶化度、全てのアモルファスとポリシリコンの屈折率と消衰係数
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CMP
F80膜厚測定システムは、酸化物、STI、金属CMPプロセスの測定に使用されています。
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誘電体
フィルメトリクスは産業界で使用される数千もの誘導体膜の測定システムを取り揃えています。
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ハードコート厚
フィルメトリクスのシステムはハードコートやプライマー厚を測定する自動車業界で幅広く使用されています。
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IC故障解析
F3-s1550はシリコンの裏面シニング測定をするチップ産業で使用されています。
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ITOとその他のTCO
当社独自の解析アルゴリズムにより、TCO厚、屈折率、消衰係数の測定が測定ボタン一つで可能です。
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医療デバイス
血管形成バルーン、ステント、インプラントコーティング、その他多数の膜厚を測定します。
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金属膜厚測定
金属膜の膜厚、屈折率、消衰係数を50nmまで測定します。
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OLED
NPB、lQ3、PEDOT、P3HT、soluble Teflons等の膜厚と屈折率を測定します。
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眼鏡コーティング
F10-ARで屈折率、色、反射防止、ハードコート層厚の測定が可能です。
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Paryleneコーティング
ParyleneコーティングサンプルをF3-CSのステージ上に置くだけで膜厚の測定が可能です。
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フォトレジスト
当社は数十もの異なるレジストを測定しており、屈折率ファイルもお使いのレジストに応じて作成できます。
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多孔質シリコン
多孔質シリコン膜の膜厚、多孔率、屈折率、消衰係数を測定します。
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プロセス膜
フィルメトリクスは半導体プロセス膜の測定用に完全なシステムを取り揃えています。
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屈折率と消衰係数
190-1700nm範囲の屈折率と消衰係数を測定
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シリコンウエハーと膜
フィルメトリクスはシリコンを2mm厚まで測定する為の卓上、マッピング、製造システムを取り揃えています。
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ソーラーアプリケーション
CdTe、CdS、CIGS、アモルファスシリコン、TCO、反射防止層、その他の膜厚を測定します。
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半導体教育研究機関
50台以上のF20が大学機関研究所で使用されています。
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ウェブコーティング
フィルメトリクスのシステムはインラインのポリマー膜厚測定用に幅広く使用されています。
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