Paryleneコーティング
Paryleneは、その優れたコーティング特性のため、極端なサービスプリント基板からさらに用途が広がり、工業、医療、電子分野など広範囲の産業で使われるようになりました。 Paryleneのコーティングプロセスが優れている理由は、塗装が気相から始まり、中間液相状態へと遡ることが出来るからです。 この特殊なコーティングプロセスによって下地形状に沿ったコーティング(コンフォーマル コーティング)が得られ、鋭い角、尖端、割れ目、露出した内表面を非常に均一に、またピンホール無く覆うことが出来ます。
アプリケーションカタログをリクエストするParyleneはより広域に使用されており、その膜厚を正確に測定することは重要です。 Paryleneが少なすぎると全てが覆いきれない、ピンホールの発生、耐摩擦の減少と言った問題が起きます。 逆にParyleneが多すぎるとデバイスの性能が低下し、また材料の無駄になります。更に、Paryleneコーティングの特性である大変信頼性が高く、軽く、残留ストレスが無く、透明で、生物的に適応性のため、正しい膜厚測定はParyleneコーティングの利点を最大限に利用できます。
フィルメトリクスのParylene厚測定システム
フィルメトリクスは、Parylene膜厚測定に10年以上の実績があります。 一番よく使用されている製品はF3-CSで、これは平らな面でのParylene用に作られています。 オプションと組み合わせていただきますと曲面の測定、またF10-ARの標準測定膜厚範囲0.25-75ミクロンをさらに広げることが可能です。
フィルメトリクスはParyleneコーティング厚の無料お試し測定を行っています。 - 結果は大抵1-2日です。 お問い合わせフォームで貴社のParyleneへのご活用について当社の技術者へお問い合わせ下さい。
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アモルファスとポリシリコン
膜厚測定、結晶化度、全てのアモルファスとポリシリコンの屈折率と消衰係数
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CMP
F80膜厚測定システムは、酸化物、STI、金属CMPプロセスの測定に使用されています。
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誘電体
フィルメトリクスは産業界で使用される数千もの誘導体膜の測定システムを取り揃えています。
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ハードコート厚
フィルメトリクスのシステムはハードコートやプライマー厚を測定する自動車業界で幅広く使用されています。
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IC故障解析
F3-s1550はシリコンの裏面シニング測定をするチップ産業で使用されています。
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ITOとその他のTCO
当社独自の解析アルゴリズムにより、TCO厚、屈折率、消衰係数の測定が測定ボタン一つで可能です。
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医療デバイス
血管形成バルーン、ステント、インプラントコーティング、その他多数の膜厚を測定します。
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金属膜厚測定
金属膜の膜厚、屈折率、消衰係数を50nmまで測定します。
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OLED
NPB、lQ3、PEDOT、P3HT、soluble Teflons等の膜厚と屈折率を測定します。
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眼鏡コーティング
F10-ARで屈折率、色、反射防止、ハードコート層厚の測定が可能です。
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Paryleneコーティング
ParyleneコーティングサンプルをF3-CSのステージ上に置くだけで膜厚の測定が可能です。
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フォトレジスト
当社は数十もの異なるレジストを測定しており、屈折率ファイルもお使いのレジストに応じて作成できます。
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多孔質シリコン
多孔質シリコン膜の膜厚、多孔率、屈折率、消衰係数を測定します。
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プロセス膜
フィルメトリクスは半導体プロセス膜の測定用に完全なシステムを取り揃えています。
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屈折率と消衰係数
190-1700nm範囲の屈折率と消衰係数を測定
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シリコンウエハーと膜
フィルメトリクスはシリコンを2mm厚まで測定する為の卓上、マッピング、製造システムを取り揃えています。
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ソーラーアプリケーション
CdTe、CdS、CIGS、アモルファスシリコン、TCO、反射防止層、その他の膜厚を測定します。
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半導体教育研究機関
50台以上のF20が大学機関研究所で使用されています。
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ウェブコーティング
フィルメトリクスのシステムはインラインのポリマー膜厚測定用に幅広く使用されています。
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