ハードコート膜厚測定
当社のシステムは自動車、航空産業でハードコートやその他の保護膜の膜厚測定に幅広く使われています。F10-HCは曲面サンプルや複数層(例、下塗り/ハードコート) の膜厚測定に最適です。
アプリケーションカタログをリクエストする自動車用ヘッドランプアプリケーション
自動車用ヘッドランプの製造では、コーティングの厚みが品質に重要な影響を及ぼします。外枠のハードコート層、ポリカーボネートレンズ内部の曇り止め層、反射器のベースコートの膜厚、これら全ての管理が重要になります。 それぞれの使用用途には測定課題があり、フィルメトリクスではその課題を解決するのためのソフトウェア、ハードウェア、ノウハウを開発して、最適な解決策を提供しています。
ハードコート用途の詳しい情報については お問い合わせフォーム で当社技術者にお問い合わせ下さい。
フィルメトリクスは無料お試し測定を行っています。 - 結果は大抵1~2日です。
測定例
オプションのHCアップグレードを装備したF10-ARシステムにより反射率データが取得され、膜厚が測定されました。このシステムは光学コンタクトプローブを使いることにより、本質的に裏面反射の影響を減らすことが出来ます。コンタクトプローブはアクリルシートの表面に置かれ、スペクトルデータが収集され、その後コーティング厚を決定するために自動的にFILMeasureにより分析されます。このサンプルのアクリルシートにはプライマーのコーティングと非常に類似した反射率を持つハードコートが施されていました。測定セットアップ:
お問い合わせ
アプリケーションを検索する
-
アモルファスとポリシリコン
膜厚測定、結晶化度、全てのアモルファスとポリシリコンの屈折率と消衰係数
APPLICATIONS_amorphous-poly-silicon_FilterKeywords
-
CMP
F80膜厚測定システムは、酸化物、STI、金属CMPプロセスの測定に使用されています。
APPLICATIONS_cmp_FilterKeywords
-
誘電体
フィルメトリクスは産業界で使用される数千もの誘導体膜の測定システムを取り揃えています。
APPLICATIONS_dielectrics_FilterKeywords
-
ハードコート厚
フィルメトリクスのシステムはハードコートやプライマー厚を測定する自動車業界で幅広く使用されています。
APPLICATIONS_hardcoat-thickness_FilterKeywords
-
IC故障解析
F3-s1550はシリコンの裏面シニング測定をするチップ産業で使用されています。
APPLICATIONS_failure-analysis_FilterKeywords
-
ITOとその他のTCO
当社独自の解析アルゴリズムにより、TCO厚、屈折率、消衰係数の測定が測定ボタン一つで可能です。
APPLICATIONS_ito_FilterKeywords
-
医療デバイス
血管形成バルーン、ステント、インプラントコーティング、その他多数の膜厚を測定します。
APPLICATIONS_biomedical_FilterKeywords
-
金属膜厚測定
金属膜の膜厚、屈折率、消衰係数を50nmまで測定します。
APPLICATIONS_metal_FilterKeywords
-
OLED
NPB、lQ3、PEDOT、P3HT、soluble Teflons等の膜厚と屈折率を測定します。
APPLICATIONS_oled_FilterKeywords
-
眼鏡コーティング
F10-ARで屈折率、色、反射防止、ハードコート層厚の測定が可能です。
APPLICATIONS_ophthalmic_FilterKeywords
-
Paryleneコーティング
ParyleneコーティングサンプルをF3-CSのステージ上に置くだけで膜厚の測定が可能です。
APPLICATIONS_parylene_FilterKeywords
-
フォトレジスト
当社は数十もの異なるレジストを測定しており、屈折率ファイルもお使いのレジストに応じて作成できます。
APPLICATIONS_photoresist_FilterKeywords
-
多孔質シリコン
多孔質シリコン膜の膜厚、多孔率、屈折率、消衰係数を測定します。
APPLICATIONS_porous-silicon_FilterKeywords
-
プロセス膜
フィルメトリクスは半導体プロセス膜の測定用に完全なシステムを取り揃えています。
APPLICATIONS_process-films_FilterKeywords
-
屈折率と消衰係数
190-1700nm範囲の屈折率と消衰係数を測定
APPLICATIONS_refractive-index_FilterKeywords
-
シリコンウエハーと膜
フィルメトリクスはシリコンを2mm厚まで測定する為の卓上、マッピング、製造システムを取り揃えています。
APPLICATIONS_si-wafers_FilterKeywords
-
ソーラーアプリケーション
CdTe、CdS、CIGS、アモルファスシリコン、TCO、反射防止層、その他の膜厚を測定します。
APPLICATIONS_solar_FilterKeywords
-
半導体教育研究機関
50台以上のF20が大学機関研究所で使用されています。
APPLICATIONS_teaching-labs_FilterKeywords
-
ウェブコーティング
フィルメトリクスのシステムはインラインのポリマー膜厚測定用に幅広く使用されています。
APPLICATIONS_web-coatings_FilterKeywords