F3-CS

F3-CSシステムは微小視野および微小試料測定用途に応じて、開発された機種です。USBバスパワー設計で、誰でもパリレンと真空コーティングを簡単に測定することが出来ます。

独自のオートベースライン機能により、立ち上げ時間を大幅短縮し、測定感度自動校正機能も付きます。ハンズフリー測定モードで、サンプルを下向きでステージに置くことだけで膜厚測定を行えます。透明・不透明の基材を問わず、その上に成膜された数百種類の材料の膜厚測定に必要な能力を全て揃えます。

高速な膜厚測定

ソフトウェアをアップグレードすることで、膜厚測定を簡単に行えます。全ての誘電体層(パリレンC、N、HT含み)と半導体膜の屈折率、消衰係数データ(nとk)が用意されており、厚み測定結果は直感的で分かりやすく表示されること、膜厚と光学定数の同時測定もできます。Windows XPから Windows 8 64-bitまでのコンピューター作業環境が対応可能で、電源供給と通信ともにUSBケーブルでサポートします。

付属品:

モデル仕様

*膜材料その他の条件により異なります
**膜厚と屈折率測定はオプションです
モデル 膜厚測定範囲* 波長範囲
F3-CS 15nm - 70µm** 380-1050nm
F3-CS-UV 3nm - 40µm** 190-1100nm
F3-CS-NIR 100nm - 250µm** 950-1700nm

特典: